半導(dǎo)體涂層厚度測量菲希爾x射線測厚儀

半導(dǎo)體涂層厚度測量菲希爾x射線測厚儀

菲希爾x射線測厚儀特點(diǎn)

菲希爾x射線測厚儀根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線熒光光譜儀

菲希爾x射線測厚儀半導(dǎo)體檢測器（PIN和SDD） 確保出色的檢測精度和高分辨率

XAN 250和252：用于測量鋁，硅或硫之類的輕元素；

準(zhǔn)直器：固定或4種可切換，最小測量點(diǎn)約為0.3mm

半導(dǎo)體涂層厚度測量基本濾片：固定或6種可切換

半導(dǎo)體涂層厚度測量固定樣品支架或手動XY載物臺

半導(dǎo)體涂層厚度測量攝像頭可輕松定位最佳測量位置

樣品高度最多17厘米;

菲希爾測厚儀特點(diǎn)：

　　菲希爾XAN250高性能機(jī)型，具有強(qiáng)大的綜合測量能力；

　　菲希爾XAN250配有4 個(gè)電動調(diào)節(jié)的準(zhǔn)直器和6個(gè)電動調(diào)節(jié)的基本慮片；

　　菲希爾XAN250配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復(fù)雜的多元素分析；

　　由下至上的測量方向，可以非常簡便地實(shí)現(xiàn)樣品定位。  

菲希爾測厚儀典型應(yīng)用領(lǐng)域：

　　fischer xan250對電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個(gè)納米的功能性鍍層進(jìn)行測量；

　　fischer xan250對有害物質(zhì)進(jìn)行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量；

　　fischer xan250在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對合金進(jìn)行高精度的分析；

　　用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域。