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菲希爾X射線測厚儀XDL

更新時間:2024-06-16

訪問量:549

廠商性質:代理商

生產地址:

簡要描述:
菲希爾X射線測厚儀XDL,fischer測厚儀,菲希爾測厚儀,基于基本參數(shù)分析的無標準片測量:在手邊樣本組成未知的情況下實現(xiàn)精確的測量結果
品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區(qū)間面議
產地類別進口應用領域環(huán)保,化工,石油,能源,電子

菲希爾X射線測厚儀XDL

菲希爾X射線測厚儀XDL

菲希爾x射線測厚儀在無損無接觸的涂層厚度測量和材料分析領域,F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線儀器是理想的選擇。自1983年以來,我們的X射線儀器已成為幾乎所有主要行業(yè)質量測試的一個組成部分。我們的儀器以其精確性、準確性和耐用性而聞名。同時,F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線的設計易于使用,并在測量的各個方面為您提供支持。 這使您可以專注于手頭上的質量工作,而不是測量儀器上。

菲希爾x射線測厚儀我們的X射線儀器配有專用的FischerWinFTM軟件,旨在規(guī)范測量過程。這包括控制X射線、實現(xiàn)測量的可追溯性、生成個性化測量報告以及與內部網(wǎng)絡交互。

菲希爾x射線測厚儀我們種類齊全的X射線設計用于高可靠性地測量不同的應用。電子、電鍍、汽車、黃金和珠寶等領域的公司以及更多的公司都依賴于FISCHERSCOPE X射線儀器進行質量控制。

圖片30.jpg

菲希爾x射線測厚儀特點介紹

能量色散X射線熒光光譜儀,自動進行材料自動分析和鍍層厚度的無損測量,采用ISO 3497和ASTM B 568標準;

XDLM的最小測量點: 0.1毫米; XDL的最小測量點:約 0.2毫米

鎢X射線管或鎢微焦點管(XDLM)作為X射線源

經(jīng)驗證可用于快速測量的比例接收器探測器

固定或可更改的準直器

固定或可自動切換基本濾片

可選擇手動或可編程的XY載物臺;

開槽箱體設計用于測量大的印刷電路板

通過攝像頭可輕松固定測量位置

經(jīng)過認證的全面保護設備;


高精度涂層測厚儀、超聲波測厚儀、涂層測厚儀、粗糙度、表面輪廓儀、圓度儀、圓柱度的儀器,淬火硬化層深度無損測量儀,組件清潔度測試系統(tǒng)、關節(jié)臂三坐標測量針探針,工業(yè)電子內窺鏡,平面度測量儀、光譜儀、高度計、通用長度測量機,齒輪嚙合儀,齒輪測量中心、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、硬度計、滲碳層厚度計、滲氮層深度無損檢測儀、紅外熱成像儀、紅外溫度計、投影儀、視頻測量儀、材料萬能試驗機、莫尼粘度計、振動計等精密測量儀器。

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