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菲希爾X射線測(cè)厚儀 產(chǎn)品

更新時(shí)間:2023-01-19   點(diǎn)擊次數(shù):765次

菲希爾X射線測(cè)厚儀產(chǎn)品

菲希爾X射線測(cè)厚儀應(yīng)用實(shí)例

PCB領(lǐng)域的一個(gè)典型鍍層結(jié)構(gòu)是Au/Pd/Ni/Cu/

PCB和而且測(cè)量點(diǎn)的寬度通常都小于100 μm,Au層和Pd層的厚度都在10到100 nm之間。使用半寬高為20μm的XDV-μ進(jìn)行測(cè)量,Au層和Pd層的重復(fù)精度分別可達(dá)到~0.1 nm和~0.5 nm。

菲希爾鍍層測(cè)厚儀特征

帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管,可選鉬管。最高工作條件:50kV,50W

X射線探測(cè)器采用珀?duì)柼吕涞墓杵铺綔y(cè)器

多毛細(xì)孔X射線聚焦裝置,測(cè)量點(diǎn)約20-40 μm FWHM(半高寬)

4個(gè)可切換基本濾片

帶彈出功能的可編程XY平臺(tái)

視頻攝像頭可用來(lái)實(shí)時(shí)查看測(cè)量位置,十字線上有經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的刻度標(biāo)尺,而測(cè)量點(diǎn)

實(shí)際大小也在圖像中顯示。


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